X射线衍射技术在科研中的应用2

更新时间：2022-04-28

封面图片：理学R-AXIS IV 探测器测得的PCBA薄膜的二维掠入射小角散射图像。

四、晶粒尺寸大小的测定

材料中晶粒尺寸小于10nm时，将导致多晶衍射实验的衍射峰显著增宽。故根据衍射峰的增宽可以测定其晶粒尺寸。

五、取向分析

测定单晶取向和多晶的结构（择优取向）。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。

六、结晶度的测定

结晶性高聚物中晶体部分所占的百分比叫做结晶度。是一种重要的工艺指标。低分子晶体，由于完全结晶，没有结晶度问题。高分子晶体，由于长的链状结构不易完全整规排列，往往导致非完全结晶。通过软件计算可以得到相对结晶度，主要是针对晶态和非晶态差别明显的衍射图进行分析。

七、XRD其他方面的应用

1. 对晶体结构不完整性的研究

包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。

2. 结构分析

对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。

3. 液态金属和非晶态金属

研究非晶态、液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。

4. 合金相变

包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系等。

5. 特殊状态下的分析

在高温、低温和瞬时的动态分析。理学提供了XRD和DSC联合的解决方案。

理学设备DSC8231 差示扫描量热仪

6. 小角散射

用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小。

理学设备NANOPIX 小角和广角X射线散射系统

7. X射线形貌

用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等。

理学设备nano3DX X射线显微镜

8.单晶研究

常采用四圆衍射仪配用电子计算机自动控制和记录，可以精确测定晶格参数，并将衍射点的强度数据依次自动收集，简化了实验过程，而且大大提高了数据的精确度。因此，它已成为当前晶体结构分析中强有力的工具。

理学设备XtaLab Synergy-S 单晶X射线衍射仪

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